Aluno de Iniciação Científica: Priscila Akemi Matias dos Santos (PIBIT/CNPq)
Curso: Outros
Orientador: Walmor Cardoso Godoi
Co-Orientador: não há
Departamento: LACTEC
Setor: Tecnologia
Palavras-chave: Difração por Raios X , Materiais , Microestrutura
Área de Conhecimento: 10507019 - ESTRUTURA DE LÍQUIDOS E SÓLIDOS; CRISTALOGRAFIA
A cristalografia dos raios X é uma técnica que consiste em fazer passar um feixe de raios X através de um objeto, e corresponde a uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais cristalinos. Algumas das aplicações são voltadas a indústria farmacêutica, a área de geologia, forense e estudos em materiais orgânicos e inorgânicos. Os raios X são usados para tal fim por ter comprimento de onda da mesma ordem de grandeza das distâncias interatômicas. A difração dos raios X ocorrerá se um feixe de raios X incidir sobre um material policristalino, que apresenta uma distribuição ordenada de seus átomos no espaço e que a distância interatômica seja da ordem do comprimento de onda dos raios X. Para que ocorra difração, deve haver dependência da diferença de caminho percorrida pelos raios X e o comprimento de onda da radiação incidente. Tal condição é expressa em uma equação conhecida como Lei de Bragg. Vários métodos são utilizados na determinação de estruturas cristalinas, dentre estes os mais usados são: método de Laue, método do cristal rotativo e método de Debye-Scherrer, um dos mais utilizados para investigação da estrutura dos cristais, porque não precisa usar monocristais. O difratômetro disponível apresenta a geometria parafocal Bragg-Brentano, o arranjo básico constitui-se de um goniômetro horizontal ou vertical. A partir da fonte, os raios X atravessam a fenda Soller, a fenda de divergência e irradiam a superfície da amostra.Os raios difratados em determinado ângulo 2θ convergem para a fenda de recepção. Este trabalho tem como objetivo mostrar os resultados da difração de raios X 2D utilizando filmes mamográficos e compará-los com os resultados obtidos em 1D para uma amostra em pó. O trabalho está sendo desenvolvido no Laboratório de Difratometria de Raios X do LACTEC no equipamento Philips modelo XPert.
